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SiC离大规模量产尚需临门一脚

发布时间:2019-06-24 责任编辑:lina

【导读】随着微电子技术的发展,传统的Si和GaAs半导体材料由于本身结构和特性的原因,在高温、高频、光电等方面越来越显示出其不足和局限性,目前,人们已将注意力转移到SiC材料,这将是最成熟的宽能带半导体材料。
 
SiC离大规模量产尚需临门一脚

随着微电子技术的发展,传统的Si和GaAs半导体材料由于本身结构和特性的原因,在高温、高频、光电等方面越来越显示出其不足和局限性,目前,人们已将注意力转移到SiC材料,这将是最成熟的宽能带半导体材料。
 
身为第三代的半导体材料,SiC具有能带宽、热导率高、电子的饱和漂移速度大、临界击穿电场高,以及介电常数低、化学稳定性好等特点,成为制作高温、高频、大功率、抗辐照、短波长发光及光电整合元件的理想材料,在高频、大功率、耐高温、抗辐照的半导体元件及紫外探测器等方面,都具有广泛的应用前景。
 
SiC优越的半导体特性,未来将可为众多的元件所采用。SiC拥有高温结构材料特性,目前已经广泛应用于航空、航天、汽车、机械、石化等工业领域。利用其高热导、高绝缘性,目前在电子工业中则是用于大规模整合电路的基板和封装材料。在冶金工业中则作为高温热交换材料和脱氧剂。目前SiC最为人所熟知知的仍然是作为理想的高温半导体材料。随着SiC半导体技术的进一步发展,SiC元件的应用领域也越来越广阔,成为国际上新材料、微电子和光电子领域研究的新热点。
 
正因为如此,SiC具有的优良特性、诱人的应用前景,及巨大的市场潜力,也势必将引来激烈的竞争。可以预料,它既是科学家争先占领的高技术领域制高点,又是能带来巨大商业利益的战场。
 
SiC膜层材料具有很大的发展潜力和应用前景,在现代工业的高速发展和技术水准的高度要求下,SiC膜层材料必将以其独特优势,在工业领域占据重要位置。但同时也必须注意,SiC膜层材料在未来的时间若要取得更进一步发展,并开始进行量产的脚步,还需要进行更多的技术研究和应用实现。因此,进一步加强理论研究、降低成本、提高材料质量,并持续进行实践探索,将是今后的工作重点。
 
碳化硅的以下问题,都解决了吗?
 
目前已在使用的长晶技术则包含高温化学气象沉积法(HTCVD),与高温升华法(HTCVT)两种。
 
以台湾磊拓科技所代理的设备为例,旗下代理的PVA TePla品牌的SiCube单晶长晶炉,能够提供HTCVD和HTCVT这两种长晶法,其工作温度皆需2600°C ,而工作压力则落在5至900 mbar。
 
虽然有长晶设备,但碳化硅晶圆的生产仍是十分困难,不仅是因为产能仍十分有限,而且品质十分的不稳定。
 
以目前良率最高的HTCVD法为例,它是以摄氏1500至2500度的高温下,导入高纯度的硅烷(silane;SiH4)、乙烷(ethane)或丙烷(propane),或氢气(H2)等气体,在生长腔内进行反应,先在高温区形成碳化硅前驱物,再经由气体带动进入低温区的籽晶端前沉积形成单晶。
 
然而,HTCVD技术必须精准的控制各区的温度、各种气体的流量、以及生长腔内的压力,才有办法得到品质精纯的晶体。因此在产量与品质上仍是待突破的瓶颈。
 
依据目前的硅晶业者的生产情况,一般而言,生产8吋的硅晶棒,需要约2天半的时间来拉晶,6吋的硅晶棒则需要约一天。接着,待晶棒冷却之后,再进行晶圆的切片和研磨。
 
至于碳化硅晶圆,光长晶的时间,就约需要7至10天,而且生成的高度可能只有几吋而已(硅晶棒可达1至2米以上),再加上后续的加工制程也因为硬度的影响而相对困难,因此其产能十分有限,品质也不稳定。
 
另外,晶圆短缺与设计经验不足影响碳化硅终端芯片发展。
 
据了解,目前全球仅约有三、四家业者(Cree、Norstel、新日铁住金等)能提供稳定的产量。中国虽然已着手自产,但在品质方面尚未能赶上美日,因此全球的产能仍十分有限,目前市场也仍是处于短缺的状况。这也说明了现今整个碳化硅半导体产业的情况,不仅上游晶圆的价格无法松动,连带终端芯片的价格也难以让多数业者接受。
 
另一个发展限制,则是在碳化硅元件的应用与设计上。由于硅晶圆问世已久,而且行之有年,有非常完整的工具与技术支撑,因此绝大多数的芯片工程师只熟悉硅元件的芯片开发,但对于碳化硅元件的性能与用途,其实不怎么清楚。
 
工程师对碳化硅元件本身的性能就已经不太清楚,再加上晶圆品质的不稳定,导致元件的良率与可靠度不足,让整个的产业发展非常缓慢。
 
 
 
 
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