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三星量产QLC第9代V-NAND

发布时间:2024-09-12 责任编辑:lina

【导读】三星电子宣布,已开始大规模生产其1太比特 (Tb) 四级单元 (QLC) 第9代垂直NAND (V-NAND)。


最新的QLC V-NAND结合了多种突破性技术,包括通道孔蚀刻,可通过双堆栈结构实现业内最高的层数


业界首创的QLC和TLC第9代V-NAND可在各种AI应用中提供最佳内存


三星电子宣布,已开始大规模生产其1太比特 (Tb) 四级单元 (QLC) 第9代垂直NAND (V-NAND)。


继今年4月实现业界首个三级单元 (TLC) 第九代V-NAND量产后,三星又实现业界首个QLC第九代 V-NAND量产,巩固了在高容量、高性能NAND闪存市场的领导地位。 


三星电子表示,在TLC版本推出仅四个月后,QLC第9代 V-NAND就成功量产,这使我们能够提供全系列先进的SSD解决方案,满足AI时代的需求。


三星量产QLC第9代V-NAND

随着企业级SSD市场快速增长,对AI应用的需求不断增加,我们将继续通过QLC和TLC第9代V-NAND巩固领导地位。


三星计划扩大QLC第9代V-NAND的应用范围,从品牌消费产品开始,并扩展到移动通用闪存 (UFS)、PC和服务器SSD,以满足包括云服务提供商在内的客户需求。 


三星QLC第九代V-NAND汇集了多项创新,取得了技术突破。


采用三星独有的通道孔蚀刻技术,以双层堆栈结构实现业界最高层数,并利用TLC第九代V-NAND 的技术专长,优化单元面积和外围电路,实现业界领先的位密度,比上一代QLC V-NAND高出约 86%。


设计模具技术可调整操作单元的字线 (WL) 的间距,以确保跨层和层内单元特性的一致性和优化。


随着V-NAND层数的增加,这些特性变得越来越重要。


与以前的版本相比,采用设计模具可将数据保留性能提高约20%,从而提高产品可靠性。


预测程序技术可预测并控制单元状态变化,以最大限度地减少不必要的操作。


三星的QLC第9代V-NAND通过技术改进,写入性能提高了一倍,数据输入/输出速度提高了60%。


通过使用低功耗设计,数据读取和写入功耗分别降低了约30%和50%。


该方法通过仅感测必要的位线(BL)来降低驱动NAND单元的电压并最大限度地降低功耗。


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