Calibre xACT 平台可借由自动优化电路参数提取技术，针对客户特定的工艺节点、产品应用、设计尺寸大小及电路参数提取目标，实现精准度和周转时间 (TAT) 的最佳组合。采用 Calibre xACT 平台进行电路寄生参数提取在满足最严格的精准度要求的同时，还让客户体验到了减少高达 10 倍的周转时间。

 

Samsung 在用于 14nm 技术的 Calibre xACT 平台的开发和认证方面与 Mentor Graphics 有着广泛的合作，并凭借该平台的高精准度性能将其应用于技术开发。

　　

Calibre xACT 产品能够将单个规则档案应用于一系列电路参数提取应用，使客户能够兼顾精准度和快速 TAT(Turn Around Time)，且无需手动修改其规则档案或工具配置。

　　

“我们在对领先的电路参数提取产品进行了仔细的基准检验后，选择了将Calibre xACT作为签核电路参数抽取工具标准并应用到我们所有的新一代设计中，”Cypress Semiconductor 公司 CAD 总监 Dragomir Nikolic 说道。 “包括在90 nm和65 nm制程节点上的产品。我们发现，在众多目标在最尖端工艺节点电路参数提取产品中，Calibre xACT 可提供高精准度和快速周转时间的最佳组合。此外，我们也看到 Calibre xACT电路参数提取工具有能力在各种各样的应用(从晶体管级别到全芯片数字电路参数提取)中产生最佳结果，这种能力是非常有价值的。”

　　

在整个设计周期内，电路设计工程师必须在性能和精准度之间权衡取舍。寄生电路参数提取也不例外。在使用较为复杂的FinFET组件的先进工艺节点上，设计工程师始终致力于追求更为严苛的精准度，也需要更高的性能和容量来实现十亿级晶体管设计。事实上，在现代 IC 中，所有制程节点都随着内存、模拟电路、标准单元库以及客制化数字内容的混合变得日益复杂。这种复杂性为电路参数提取工具带来了一系列不同的挑战。为了应对这些挑战，CalibrexACT平台将精简模型、解电磁场技术(Field Solver)以及高效的多 CPU 扩展 (scaling)技术融为一体，以确保实现有可靠精准度并满足计划所要求的期限。

　　

CalibrexACT电路参数提取平台与整个Calibre产品线整合，实现了无缝验证流程，其中包括用于完整晶体管级模型的CalibrenmLVS™ 产品，以及用于针对极高精准度电路参数提取应用的CalibrexACT 3D 产品。此外，它还纳入了第三方设计环境和格式，以确保与现有的设计和仿真流程相兼容。