【导读】锐芯微电子新品proX1512C型 X射线平板探测器，像素96um，成像面积146mm×115mm，帧率高、动态范围宽、噪声低，可获得高质量的X射线图像。采用独特的抗辐照设计，辐照寿命高达20000Gy，极大的延长了探测器的使用寿命。支持千兆和2.5G以太网接口，在全分辨率下帧率高达80fps，可满足各类离线与在线检测系统对高速图像采集的需要。
● proX系列 CMOS平板探测器，高速、低剂量成像
● 采用独特的抗辐照技术，辐照寿命高达20000Gy
proX1512C的主要产品特点：
• 96um CMOS像素
• 低读出噪声
• 宽动态范围
• 杰出的抗辐照性能
• 极低的图像延迟
• 稳定的数据偏移校正
• 全分辨率80fps
• 千兆以太网/2.5G以太网接口
proX1512C助力无损检测行业，广泛应用于铸件裂纹、BGA、PCB板焊接、电池、封装、电子元器件等精密检测。
proX1512C平板探测器目前已实现量产，欢迎垂询。
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