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是德科技推出首款集成可调节码间干扰功能的比特误码率测试仪

发布时间:2015-01-30 责任编辑:xueqi

【导读】是德科技日前宣布,推出集成可调节码间干扰(ISI)功能的 J-BERT M8020A 高性能 比特误码率测试仪。J-BERT M8020A的全新功能可简化高速数字接收机表征。
 
当工程师表征高速数字接收机以及测试其一致性时,通常需要仿真一定程度的通道损耗。最新的可调节和可编程 ISI 功能使工程师可以仿真这种通道损耗。该功能集成在 J-BERT M8020A 的每一个码型发生器通道中,因此无需连接外部电缆和切换外部 ISI 轨迹,使测试的设置步骤极大简化。 
研发和验证团队在表征下一代数字设计时会面临几项测试挑战。随着数据速率的持续提高,发射机与接收机之间的通道损耗也逐渐变大。产生损耗的原因包括信号路径中的印刷电路板轨迹、连接器和电缆,而通道损耗会进一步产生 ISI。通道材料和尺寸大小、数据速率和比特码型都对 ISI 有很大影响。所有高速数字接收机在技术指标上会留出裕量,以容忍一定程度的总体抖动,包括由通道损耗所引发的 ISI。在接收机表征和一致性测试过程中,工程师需要仿真这一损耗。以前采用的方法是使用外部轨迹电路板,这需要工程师连接外部线缆和进行切换,整个设置过程不仅费时,而且非常复杂。 
是德科技副总裁兼数字光测试部总经理 Juergen Beck 表示:“M8020A 高性能 比特误码率测试仪 具有目前同类产品中最高的集成度,使工程师可以快速和精确地完成接收机表征和一致性测试。借助最新的、独一无二的集成可调节 ISI 功能,M8020A 在帮助工程师应对新一代高速数字设计的测试挑战方面为业界树立了全新的标杆。”
J-BERT M8020A 高性能比特误码率测试仪 能够帮助工程师更快获得数字设计的分析结果。它可以对数据速率分别高达 16 Gb/s 和 32 Gb/s 的单通道和多通道器件实施快速和准确的接收机表征。内置 ISI 功能可以通过编程控制每个码型发生器通道,无需连接和切换外部轨迹,从而极大简化接收机的自动测试,实现高达 16 Gb/s 的数据速率。

最新可调节 ISI 选件具有以下优势:
●集成度最高,简化接收机测试设置
●支持高达 25 dB 和 16 GHz 的宽损耗范围,以及线性损耗曲线和精细步进分辨率,从而可以提供精确和可重复的接收机表征和一致性测试结果
●可以通过升级选件加入完全可扩展和可升级的接收机测试解决方案中
有关 Keysight J-BERT M8020A 高性能 比特误码率测试仪的更多信息,请访问:www.keysight.com/find/M8020A。解决方案的图片请见:www.keysight.com/find/m8000_images。
是德科技更提供多款测试仪器和软件解决方案,让您轻松实现精确的接收机表征:N5990A 自动测试软件、具有去加重功能的 M8061A 32-Gb/s 2:1 多路复用器、配有去多路复用器的 N4877A 32-Gb/s 时钟数据恢复、Infiniium 90000 X 系列示波器和 86100D Infiniium DCA-X 高带宽示波器。 
是德科技在 DesignCon 2015 展会上展示包括 J-BERT M8020A 在内的高速数字测试解决方案。该展会于 1 月 28 日至 29 日在美国加州圣克拉拉会展中心举行,是德科技展位设于第 725 号展台。 
配有可调节 ISI 选件的 J-BERT M8020A 高性能比特误码率测试仪现已上市。现有 M8020A 客户可以像使用所有其他 M8020A 选件一样,升级其仪器以获得这项新功能。
是德科技数字测试标准计划
是德科技针对数字应用的解决方案得到各个国际标准委员会内的是德科技专家的推动和支持,其中包括电子器件工程联合会(JEDEC)、PCI 特殊利益集团(PCI-SIG®)、视频电子标准协会(VESA)、串行 ATA 国际组织(SATA-IO)、USB 应用厂商论坛(USB-IF)、移动行业处理器接口(MIPI™)联盟、以太网标准(IEEE 802.3)、光互联论坛(OIF)等等。是德科技积极参与这些标准组织及其相关的研讨会和活动,以便提供适当的测试解决方案,满足客户不断演进的需求。
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