【导读】2019年12月6日，全球领先的自动化测试解决方案供应商泰瑞达 (NASDAQ:TER) 在美国马萨诸塞州北芮丁市宣布J750系列半导体测试机台实现第6000台的发货。 J750系列提供了涵盖微控制器（MCUs），无线设备和图像传感器的晶圆测试和最终测试解决方案。
2019年12月6日，全球领先的自动化测试解决方案供应商泰瑞达 (NASDAQ:TER) 在美国马萨诸塞州北芮丁市宣布J750系列半导体测试机台实现第6000台的发货。 J750系列提供了涵盖微控制器（MCUs），无线设备和图像传感器的晶圆测试和最终测试解决方案。 Ardentec公司作为拥有最大的J750测试系统装机量的测试厂商之一，迎来了泰瑞达第6000台J750测试系统 。
泰瑞达J750系列提供了世界领先的汽车和消费应用类MCU产品测试解决方案，也是图像传感器测试的全球领导者。低成本产品的集成度不断增长，并已延伸到指纹传感器，MEMS和带有MCU无线功能的物联网（IoT）产品，J750测试系统的可扩展性使其成为这类产品的理想选择。
Ardentec公司副主席兼总裁Chi-Ming Chang说到：“J750是MCU市场上公认的解决方案。” ，“J750的‘零占用空间’使我们能够最大程度地利用测试场地来增加容量，而更高的多站点吞吐量可以降低测试成本。对于任何测试环境而言，这都是一个成功的组合，我们很高兴接受此次发货，这对泰瑞达而言是一个重要的里程碑。”
J750系列使用IG-XLTM软件平台进行操作，可快速进行程序开发，并自动扩展以支持多站点测试，从而节省了大量的开发时间和成本。
“ 泰瑞达很高兴与Ardentec公司共同成就这一重要里程碑事件。自2004年以来，Ardentec公司借助泰瑞达J750测试系统机台，满足客户不断变化的需求。” 泰瑞达全球销售副总裁Ty Akin指出。凭借种类繁多的仪表， J750可以服务于广阔的市场应用和包括MCU汽车及IoT应用等各种产品。尽管产品复杂度和市场压力不断增加，泰瑞达 IG-XL软件和J750平台协同作业，仍可有效减少测试工程的工作量，帮助我们的客户按计划实现最佳的测试经济性。”
泰瑞达J750系列是测试质量的行业标准，有效帮助半导体制造商追求零缺陷目标和多站点吞吐量的目标。J750测试系统的装机量现已超过6000台，已经在50多个OSAT广泛运用，可支持用于晶圆测试和最终测试的整套量产解决方案。
