【导读】近日，是德科技公司推出配合逻辑分析仪执行DDR4 x16 DRAM（动态随机存取存储器）设计测试的全新BGA（球形栅格阵列）内插器解决方案。有助工程师快速精确地捕获地址、命令信号和数据信号子集，以完成高达 2400Mb/s 的设计调试和功能验证测量。
Keysight W4636A BGA内插器适用于逻辑分析仪，是全球最小巧的DDR4 x16 BGA内插器解决方案，非常适合测试空间紧凑的设计。
随着存储器产业界全面转向DDR4设计，工程师在开发和测试用于服务器与嵌入式设备等应用的下一代存储器系统时将面临严峻挑战，而精确探测和捕获信号对全新设计调试与验证的重要性正在日益凸显。W4636A DDR4 x16 双边、低KOV（排除容量）BGA内插器是 W4630A 系列DDR4 BGA内插器系列的新成员，可以帮助工程师观察DDR4 x16 DRAM流量，并能适应KOV有限的被测系统。该解决方案允许工程师使用ADD/CMD信号对DDR4器件执行功能一致性测试。
W4636A内插器解决方案可以直连符合JEDEC标准的 DDR4 x16 96 球DRAM球，具有最小的负载效应，能够最大限度地降低对嵌入式系统设计信号完整性的影响。此内插器解决方案与Keysight U4154B逻辑分析系统、E5847A ZIF（零插拔力）探头和U4201A电缆搭配使用，以便对ADC/CMD和DQ（数据）子集执行功能一致性测试、性能验证和分析。
是德科技副总裁兼示波器和协议事业部总经理David Cipriani表示：“客户需要全新的DDR4 BGA内插器覆盖各种各样的系统设计。W4636A内插器结合U4154B逻辑分析仪系统，可以满足设计空间有限的工程师对他们系统中的DDR4 x16 DRAM的测试需求。”
W4633A x4/x8 DDR4 BGA内插器和W4631A x16 DDR4 BGA内插器支持高达3.2 Gb/s的数据速率，能够捕获所有的ADD/CMD/DQ/DQS信号，可以满足工程师远高于当前2,400Mb/s的DDR4 x16数据速率测试需求。
U4154B逻辑分析模块提供4Gb/s状态速度，可以支持工程师可靠地触发特定的事件并捕获DDR4信号。结合全新 DDR4 内插器解决方案、B4621B DDR解码器、B4622B 一致性测试软件工具套件，U4154B模块可以提供功能测试功能，满足存储器系统集成测试需求，支持高达2,400Mb/s的数据速率。
