【导读】随着半导体元件、固态电池、先进功能材料持续向微型化、复杂化迭代，传统实验室检测设备精度不足，难以满足精细化缺陷排查、结构分析与失效研判的产业需求。针对这一行业痛点，日本理学Rigaku携手瑞典X射线技术企业Excillum，联合推出全新CT Lab HR160高分辨率X射线CT检测系统。设备融合双方核心技术优势，实现纳米级高精度无损三维成像，搭配灵活便捷的成像调节设计，可广泛适配电池、半导体、电子元件等多类高端产品的研发质控场景，为精密制造产业提供全新高效的检测解决方案。
全球 X 射线分析系统解决方案合作伙伴、Rigaku Holdings Corporation 旗下成员企业 Rigaku Corporation（总部：日本东京都昭岛市；总裁兼首席执行官：川上润；以下简称“Rigaku”）今日宣布推出 CT Lab HR160 高分辨率 X 射线计算机断层扫描（CT）系统。该系统专为电池、半导体器件、电子元件及先进材料分析而设计。CT Lab HR160 由 Rigaku 与全球 X 射线创新技术领导者 Excillum AB（总部：瑞典斯德哥尔摩；首席执行官：David Lindblom；以下简称“Excillum”）联合开发。
图片：CT Lab HR160 高分辨率 X 射线 CT 系统
CT Lab HR160 集成 Rigaku 在 X 射线 CT 成像领域的深厚技术积累，以及 Excillum 的 NanoTube N3 X 射线源。该系统最高可在 160 kV 电压下运行，可适配广泛的样品类型，并实现真正的 250 纳米空间分辨率——这一性能在同级别 CT 系统中处于行业领先水平。凭借卓越的成像能力，该系统可对传统实验室 CT 系统往往难以辨识的精细内部结构及缺陷进行高精度、无损三维成像。
得益于锥束成像几何设计，用户无需更换 X 射线源或探测器，便可灵活调节视场范围与分辨率，简化了针对不同样品及成像要求的操作流程。CT Lab HR160 专为固态电池、半导体器件、多层陶瓷电容器（MLCC）以及功率电子等应用而设计。在这些领域，内部检测在研发、质量评估和失效分析中正发挥日益重要的作用。
随着电子元件与先进材料日益趋向微型化、结构复杂化及性能升级，研究人员和制造商需要能够以更高精度揭示愈加精细内部特征的分析工具。CT Lab HR160 凝聚 Rigaku 与 Excillum 的技术优势，打造高分辨率实验室 CT 分析平台，精准回应这一需求，助力加速研发进程、提升产品质量，并推动更深入的失效分析。
Rigaku 产品事业部总经理 Kiyoshi Ogata 表示：“CT Lab HR160 为客户应对先进材料及电子器件领域日趋复杂的分析挑战，提供了全新选择。凭借在实验室环境下实现的高分辨率 CT 成像能力，我们希望帮助客户在研究、开发、质量评估及失效分析等各个环节加快决策。”
Excillum AB 首席商务官 Sara Haack 表示：“我们很高兴看到 Excillum 的 X 射线源技术被应用于 Rigaku 全新推出的 CT Lab HR160 系统。此次合作整合了双方的核心优势，为支持先进产业前沿领域的研发与制造开辟了新的可能。”
结论
CT Lab HR160的推出，填补了传统实验室CT系统在超高精密检测领域的性能短板，凭借250纳米行业领先分辨率与160kV宽工况运行能力，可精准捕捉微小器件的细微结构缺陷，解决了微型化、复杂化高端产品的无损检测难题。依托创新的锥束成像设计，设备无需更换核心硬件即可适配多规格样品检测，大幅简化操作流程、提升检测效率。
此次理学与Excillum的跨国技术合作，充分整合了高端CT成像系统研发与尖端X射线源技术优势，为固态电池、功率半导体、精密电子元件等前沿领域的研发创新、品质管控与失效分析提供了强力技术支撑，有效助力高端制造产业提质增效、加速技术迭代。未来，这款高精度检测设备将广泛应用于高端科研与工业制造场景，持续推动先进材料与微电子产业的高质量发展。
